IEC 60444-6:1995
石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量

Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)

2013-07

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标准号
IEC 60444-6:1995
发布
1995年
发布单位
国际电工委员会
替代标准
IEC 60444-6:2013
当前最新
IEC 60444-6:2021 RLV
 
 
IEC 444的本部分适用于石英晶体单元驱动电平相关性（DLD）的测量。描述了两种测试方法。方法 A 基于 IEC 444-1 的 π 网络方法，可用于 IEC 444 本部分涵盖的完整频率范围。方法 B 是一种振荡器方法，适用于测量基模晶体单元具有固定条件的较大数量。

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