IEC 60444-6:1995由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 1995-01,并于 2013-07-12 实施。
IEC 60444-6:1995 在中国标准分类中归属于: L21 石英晶体、压电元件,在国际标准分类中归属于: 31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件。
IEC 60444-6:1995 石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量的最新版本是哪一版?
最新版本是 IEC 60444-6:2021 RLV 。
IEC 444的本部分适用于石英晶体单元驱动电平相关性(DLD)的测量。描述了两种测试方法。方法 A 基于 IEC 444-1 的 π 网络方法,可用于 IEC 444 本部分涵盖的完整频率范围。方法 B 是一种振荡器方法,适用于测量基模晶体单元具有固定条件的较大数量。
所有晶体元件的频率和电阻都在一定程度上随激励电平的变化而变化,这称为激励电平相关性(DLD),因此订货规范中的激励电平须是晶体实际应用电路中的激励电平。正因为晶体元件固有的激励电平相关性的特性,用户在振荡电路设计和晶体使用时,必须注意和保证不出现激励电平过低而起振不良或过度激励频率异常的现象。 ...
4.16 DLD2(单位:欧姆) 不同激励电平下的负载谐振电阻的最大值与最小值之间的差值。(如:从0.1uw~200uw,总共20步)。 4.17 RLD2(单位:欧姆) 不同激励电平下的负载谐振电阻的平均值《与谐振电阻Rr的值比较接近,但要大一些》。(如:从0.1uw~200uw,总共20步)。 ...
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