JEDEC JESD78F.02-2023
IC 闩锁测试
IC Latch-Up Test
- 标准号
- JEDEC JESD78F.02-2023
- 发布
- 2023年
- 发布单位
- /
- 适用范围
- 该标准根据器件和微电路因暴露于规定的闩锁应力而导致损坏或退化的敏感性（敏感性），建立了对器件和微电路进行测试、评估和分类的程序。该标准涵盖电流注入测试（信号引脚测试）和过压测试（电源测试）。电流注入是通过具有电压合规限制（I-Test）的电流强制或通过施加具有电流合规限制（E-Test）的电压来实现的。
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