GB/T 42706.2-2023
电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分：退化机理
Long-term storage of electronic components and semiconductor devices Part 2: Degradation mechanisms
GBT42706.2-2023, GB42706.2-2023
- 标准号
- GB/T 42706.2-2023
- 别名
- GBT42706.2-2023, GB42706.2-2023
- 发布
- 2023年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 42706.2-2023
- 本段介绍旨在概述《GB/T 42706.2-2023 电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分：退化机理》所涉及的主题。该标准是关于电子元器件中半导体器件长期贮存的退化机理的一部分，旨在为半导体器件的长期贮存提供指导和规范。该标准着重研究半导体器件在长期贮存过程中可能发生的退化现象和机理，并提供了相应的测试方法和评估标准。通过对半导体器件的退化机理进行深入研究和分析，该标准有助于提高半导体器件的长期贮存性能和可靠性，从而保障电子元器件在贮存期间的正常运行。该标准的实施可为电子元器件行业提供有力的技术支持和参考，促进行业的发展和进步。
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