GB/T 38532-2020
微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定
Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Measurement of average grain size
GBT38532-2020, GB38532-2020
- 标准号
- GB/T 38532-2020
- 别名
- GBT38532-2020
GB38532-2020 - 发布
- 2020年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 38532-2020
- 引用标准
- ISO 16700
- 适用范围
- 本标准规定了用电子背散射衍射法(EBSD)对抛光截面进行平均晶粒尺寸的测定方法,包含与晶体试样中的位置相关的取向、取向差和花样质量因子的测量要求[1]。 注1:使用光学显微镜测定晶粒尺寸已为大家普遍接受,与其相比,EBSD具有很多技术优势,如高的空间分辨率和晶粒取向的定量描述等。 注2:该方法还可用于一些复杂材料(如双相材料)的晶粒尺寸测量。 注3:对变形程度较大的试样进行分析时,需谨慎处理结果。
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