GB/T 38532-2020
微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定

Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Measurement of average grain size

GBT38532-2020, GB38532-2020


GB/T 38532-2020 发布历史

GB/T 38532-2020由国家质检总局 CN-GB 发布于 2020-03-06,并于 2021-02-01 00:00:00.0 实施。

GB/T 38532-2020 在中国标准分类中归属于: G04 基础标准与通用方法,在国际标准分类中归属于: 71.040.40 化学分析。

GB/T 38532-2020 微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定的最新版本是哪一版?

最新版本是 GB/T 38532-2020

GB/T 38532-2020 采用标准及采用方式

  • IDT ISO 13067:2011微光束分析.电子反向散射衍射.平均粒度测量

GB/T 38532-2020 发布之时,引用了标准

  • ISO 16700 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
  • ISO 21748 测量不确定估计的重复性,再现性和真实评估值的使用指南
  • ISO 24173 微束分析*2024-01-01 更新

* 在 GB/T 38532-2020 发布之后有更新,请注意新发布标准的变化。

GB/T 38532-2020的历代版本如下:

  • 2020年 GB/T 38532-2020 微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定

 

本标准规定了用电子背散射衍射法(EBSD)对抛光截面进行平均晶粒尺寸的测定方法,包含与晶体试样中的位置相关的取向、取向差和花样质量因子的测量要求[1]。 注1:使用光学显微镜测定晶粒尺寸已为大家普遍接受,与其相比,EBSD具有很多技术优势,如高的空间分辨率和晶粒取向的定量描述等。 注2:该方法还可用于一些复杂材料(如双相材料)的晶粒尺寸测量。 注3:对变形程度较大的试样进行分析时,需谨慎处理结果。

GB/T 38532-2020

标准号
GB/T 38532-2020
别名
GBT38532-2020
GB38532-2020
发布
2020年
采用标准
ISO 13067:2011 IDT
发布单位
国家质检总局
当前最新
GB/T 38532-2020
 
 
引用标准
ISO 16700 ISO 21748 ISO 24173

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