IEC 60749-41:2020
半导体器件.机械和气候试验方法.第41部分:非易失性存储器器件的标准可靠性试验方法
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
- 标准号
- IEC 60749-41:2020
- 发布
- 2020年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 60749-41:2020
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