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1938年德国工程师Max KnoU和Ernst Ruska制造出了世界上*台透射电子显微镜 ,透射电子显微术是利用穿透薄膜试样 的电子束进行成像或微区分析的一种电子显微术。可获得高度局部化的信息,是分析晶体 结构、晶体不完整性、微区成分的综合技术。 ...
电子显微术开始于上世纪30年代,经过几十年的不断发展和完善,现在其主要方法包括选区电子衍射(SAED)、衍射衬度分析、汇聚束衍射(CBED)、高分辨分析(HREM)、微区成分分析(EDS、EELS)及Z衬度分析,同时还包括电子全息分析和电子结构分析等。电子显微术主要用于分析材料内部的微观结构和成分分析,现在已经成为材料、凝聚态物理、半导体电子技术、化学、生物、地质等多学科的非常重要的研究手段。 ...
高分辨率透射电子显微术始于20世纪50年代,1956年J.W.Menter 用分辨率为8 Å透射电子显微镜直接观察到酞菁铜间距为12Å的平行条纹,开启了之后的高分辨电子显微术的大门。到20世纪70年代初,1971年饭岛澄男利用分辨率为3.5Å的TEM拍到Ti2Nb10O29的相位衬度像,向上直接观察到了原子团沿入射电子束方向的投影。同时解释高分辨像成像理论和分析技术的研究也取得了重要进展。...
一般材料的分析技术可以概分为结构分析(物性)与成份分析(化性)两大类。其分析方法多利用一入射粒子束(Source)如电子束、离子束、光束(含可见光及X光射线)及微探针(Probe)等,与试片作用产生各种二次粒子后,侦测其作用后产生的讯号,来分析材料的各项材料特性。...
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