ISO 15932:2013
微光束分析.分析电子显微镜.词汇
Microbeam analysis.Analytical electron microscopy.Vocabulary
- 标准号
- ISO 15932:2013
- 发布
- 2013年
- 中文版
- GB/T 40300-2021 (修改采用的中文版本)
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 当前最新
- ISO 15932:2013
- 适用范围
- 本国际标准定义了 AEM 实践中使用的术语。 它涵盖了一般概念和特定概念，并根据其层次结构以系统顺序进行分类。 本国际标准适用于与AEM实践相关的所有标准化文件。 此外，本国际标准的某些部分适用于那些与相关领域（例如TEM、STEM、SEM、EPMA、EDX）实践相关的文件，以定义这些领域通用的术语。
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