IEC 62132-3:2007
集成电路.150kHz～1GHz电磁抗扰性的测量.第3部分:大容量电流注入(BCI)法
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 3: Bulk current injection (BCI) method
- 标准号
- IEC 62132-3:2007
- 发布
- 2007年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 62132-3:2007
- 引用标准
- IEC 62132-1:2006
- 被代替标准
- IEC 47A/773/FDIS:2007
- 适用范围
- IEC 621 32 的这一部分描述了一种大电流注入（BCI）测试方法，用于测量集成电路（IC）在存在传导射频干扰时的抗扰度，例如．此方法仅适用于具有板外接线的 IC，例如。 g． into a Cableharness．该测试方法用于在一根或多根电线上注入射频电流。该标准为评估在受到不需要的射频电磁信号的环境中使用的设备中应用的半导体器件建立了一个共同基础。