IEC 62132-3:2007
集成电路.150kHz～1GHz电磁抗扰性的测量.第3部分:大容量电流注入(BCI)法
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 3: Bulk current injection (BCI) method
IEC 62132-3:2007 发布历史
IEC 62132-3:2007由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 2007-09，并于 2007-09-28 实施。
IEC 62132-3:2007 在中国标准分类中归属于: L56 半导体集成电路，在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。
IEC 62132-3:2007 集成电路.150kHz～1GHz电磁抗扰性的测量.第3部分:大容量电流注入(BCI)法的最新版本是哪一版？
最新版本是 IEC 62132-3:2007 。
IEC 62132-3:2007 发布之时，引用了标准
- IEC 62132-1:2006 集成电路.150kHz～1GHz电磁抗扰度的测量.第1部分:一般条件和定义
IEC 62132-3:2007的历代版本如下：
- 2007年 IEC 62132-3:2007 集成电路.150kHz～1GHz电磁抗扰性的测量.第3部分:大容量电流注入(BCI)法
IEC 621 32 的这一部分描述了一种大电流注入（BCI）测试方法，用于测量集成电路（IC）在存在传导射频干扰时的抗扰度，例如．此方法仅适用于具有板外接线的 IC，例如。 g． into a Cableharness．该测试方法用于在一根或多根电线上注入射频电流。该标准为评估在受到不需要的射频电磁信号的环境中使用的设备中应用的半导体器件建立了一个共同基础。
- 标准号
- IEC 62132-3:2007
- 发布
- 2007年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 62132-3:2007
- 引用标准
- IEC 62132-1:2006
- 被代替标准
- IEC 47A/773/FDIS:2007