ISO 19214:2017
微束分析. 分析电子显微术. 采用透射电子显微镜术测定丝状晶体显著增长方向的方法
Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Method of determination for apparent growth direction of wirelike crystals by transmission electron microscopy
- 标准号
- ISO 19214:2017
- 发布
- 2017年
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 当前最新
- ISO 19214:2017
- 引用标准
- ISO 24173:2009 ISO 25498:2010 ISO/IEC GUIDE 98-3:2008
- 适用范围
- 该文件规定了一种通过透射电子显微镜测定表观生长方向的方法。 适用于各种方法制备的各种线状晶体材料。 该文献还可以指导确定钢、合金或其他材料中具有棒状或多边形形状的第二相颗粒的轴方向。 待测晶体适用的直径或宽度在数十至数百纳米范围内，具体取决于TEM的加速电压和材料本身。 注：在本文件中，线状晶体、带状晶体、针状第二相颗粒等均包含在线状晶体的大类中。
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