T/CASAS 026-2023
碳化硅少数载流子寿命测定微波光电导衰减法

Test method for minority carrier lifetime in silicon carbide—microwave photoconductive decay

标准号

T/CASAS 026-2023

发布

2023年

发布单位

中国团体标准

当前最新

T/CASAS 026-2023

 

 

本文件描述了用微波光电导法测定碳化硅少数载流子寿命的方法。 本文件适用于少数载流子寿命为20 ns～200 μs的碳化硅晶片的寿命测定及质量评价。

推荐