T/CASAS 026-2023
碳化硅少数载流子寿命测定微波光电导衰减法

Test method for minority carrier lifetime in silicon carbide—microwave photoconductive decay

T/CASAS 026-2023 发布历史

T/CASAS 026-2023由中国团体标准 CN-TUANTI 发布于 2023-06-19，并于 2023-06-19 实施。

T/CASAS 026-2023在国际标准分类中归属于: 31-030 电子技术专用材料。

T/CASAS 026-2023 碳化硅少数载流子寿命测定微波光电导衰减法的最新版本是哪一版？

最新版本是 T/CASAS 026-2023 。

T/CASAS 026-2023的历代版本如下：

• 2023年 T/CASAS 026-2023 碳化硅少数载流子寿命测定微波光电导衰减法

本文件描述了用微波光电导法测定碳化硅少数载流子寿命的方法。 本文件适用于少数载流子寿命为20 ns～200 μs的碳化硅晶片的寿命测定及质量评价。

标准号

T/CASAS 026-2023

发布

2023年

发布单位

中国团体标准

当前最新

T/CASAS 026-2023

 

 

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