ISO 19668:2017
表面化学分析.X射线光电子能谱学.均匀材料中元素检测极限的估算和报告
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Estimating and reporting detection limits for elements in homogeneous materials
- 标准号
- ISO 19668:2017
- 发布
- 2017年
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 当前最新
- ISO 19668:2017
- 引用标准
- ISO 18115-1 ISO 18115-2
- 适用范围
- 本文件规定了一种程序，通过该程序可以根据常见分析情况下特定样品的数据来估计 X 射线光电子能谱 (XPS) 中的元素检测限并进行报告。 本文件适用于均质材料，如果元素的深度分布在技术的信息深度内不均匀，则不适用。
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