T/CSTM 00166.3-2020
石墨烯材料表征 第3部分 透射电子显微镜法

Characterization for graphene materials Part 3 Transmission electron microscope


标准号
T/CSTM 00166.3-2020
发布
2020年
发布单位
中国团体标准
当前最新
T/CSTM 00166.3-2020
 
 
适用范围
本部分规定了透射电子显微镜法表征石墨烯材料的术语和定义、原理、仪器设备、测试样品制备、测试及计算过程、不确定度评定及测试报告。 本部分适用于石墨烯材料微观形貌、层数和层间距测量。

T/CSTM 00166.3-2020相似标准


推荐

氧化石墨能做红外光谱吗

   氧化石墨表征途径主要为图像类检测和图谱类检测,图像类检测主要以光学显微镜、扫描电子显微镜(SEM)、透射电镜(TEM)和原子力显微分析(AFM)为主,而图谱类检测主要以红外光谱(IR)、拉曼光谱(Raman)和X射线衍射(XRD)为代表。   氧化石墨是一种石墨衍生物,其表面附有种类繁多的含氧官能团。...

怎么测量石墨膜折叠性能

1.显微镜1)用扫描电子显微镜(SEM)扫描隧道显微镜(STM)透射电子显微镜(TEM)来表征生长域和表面形态。2)用原子力显微镜(AFM)来表征表面形态、厚度、层的均匀性、畴生长。...

石墨检测方法大汇总,石墨快速检测

1.显微镜  1)用扫描电子显微镜(SEM)扫描隧道显微镜(STM)透射电子显微镜(TEM)来表征生长域和表面形态。  2)用原子力显微镜(AFM)来表征表面形态、厚度、层的均匀性、畴生长。  ...

欧洲计量创新与研究计划发布石墨电学测量方法标准化

ONYX采用一体化的反射式太赫兹时域光谱技术(THz-TDS)弥补了传统接触测量方法(如四探针法 -Four-probe Method,范德堡-Van Der Pauw和电阻层析成像-Electrical Resistance Tomography)及显微方法(原子力显微镜-AFM, 共聚焦拉曼-Raman,扫描电子显微镜-SEM以及透射电子显微镜-TEM)之间的不足和空白。...


T/CSTM 00166.3-2020 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号