BS 5411-8:1976
金属及相关涂层的试验方法金属涂层厚度的测量：X射线光谱法

Methods of test for metallic and related coatings-Measurement of coating thickness of metallic coatings: X-ray spectrometric methods

被代替

金属及相关涂层的试验方法金属涂层厚度的测量：X射线光谱法, 您可以免费下载预览页

标准号: BS 5411-8:1976
发布: 1976年
发布单位: SCC
替代标准: BS 5411-8:1991
当前最新: BS 5411-8:1991

适用范围: 和吸收法也适用于测定单位面积涂层的质量。

BS 5411-8:1976相似标准

DS/EN ISO 3497:2001 金属涂层涂层厚度的测量 X射线光谱法 GSO ISO 3497:2013 金属涂层涂层厚度测量 X射线光谱法 KS D ISO 3497-2002(2017) 金属涂层 - 涂层厚度的测量 - X射线光谱仪的方法 NF EN ISO 3497:2001 金属涂层.涂层厚度的测量.X射线光谱测定方法 STAS SR ISO 3497:1992 金属涂层．涂层厚度的测量．X射线光谱测定法

涂层测厚仪和其它测厚仪的区别

X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，已达到要求的轧制厚度。无损涂层测厚仪分为磁性和涡流两种，也有磁性涡流二合一两用型的。常用于测量底材是金属的表面镀层的厚度，所以也叫做镀层测厚仪。...

EXF镀层测厚仪可测量各种金属涂层的厚度

涂层厚度的测量方法主要有楔切法、光学截断法、电解法、厚度差测量法、称重法、x射线荧光法、射线背散射法、电容法、磁性测量法和涡流测量法。前五种方法都是有损检测，测量手段繁琐、速度慢，更适合抽样检查。　　EXF镀层测厚仪采用X荧光分析技术，可测量各种金属涂层的厚度，包括单层、双层、多层、合金涂层等。EXF涂层测厚仪是一种能谱分析方法，属于物理分析方法。...

对等不同的测量对象,X射线无损测厚仪的选择方式

　 X射线无损测厚仪提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱超值。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果，甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。　　利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。...

时代涂层测厚仪的技术解答

另：对于非金属基体材料的涂层测量目前可选择电解、X射线、超声涂层等方面的仪器，但是各种方式都有利弊，电解会破坏材料，X射线测厚仪造价比较高，超声涂层测厚仪准确度及稳定性不是很好，目前有很多用户使用时代测厚仪通过间接方法进行测量，例如：喷涂过程中将金属材料与非金属材料同时喷涂，然后测量同一工艺下的金属涂层厚度，间接得出非金属材料喷涂的厚度。7、可以测量薄膜、纸张的厚度吗？...

BS 5411-8:1976金属及相关涂层的试验方法 金属涂层厚度的测量：X射线光谱法