ASTM F1893-98
半导体器件电离剂量率烧损测量指南

Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Burnout of Semiconductor Devices

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 ASTM F1893-98 前三页，或者稍后再访问。

如果您需要购买此标准的全文，请联系： 。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

ASTM F1893-98

发布日期

1998年05月10日

实施日期

废止日期

无

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

US-ASTM