60749-12-2017
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 12: Vibration@ variable frequency (Edition 2.0)

Dispositifs à semiconducteurs – Méthodes d’essais mécaniques et climatiques – Partie 12: Vibrations@ fréquences variables (Edition 2.0)

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标准号

60749-12-2017

发布日期

2017年12月01日

实施日期

2017年12月15日

废止日期

无

中国标准分类号

/

国际标准分类号

/

发布单位

IEC - International Electrotechnical Commission

引用标准

18

适用范围

This part of IEC 60749 describes a test to determine the effect of variable frequency vibration@ within the specified frequency range@ on internal structural elements. This is a destructive test. It is normally applicable to cavity-type packages. NOTE This test method describes a swept sine test. A random vibration test is described in JEDEC document JESD 22-B103.