GB/T 36969-2018
纳米技术原子力显微术测定纳米薄膜厚度的方法

Nanotechnology—Method for the measurement of the nanofilm-thickness by atomic force microscopy

GBT36969-2018, GB36969-2018

纳米技术原子力显微术测定纳米薄膜厚度的方法, 您可以免费下载预览页

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试：免费下载 GB/T 36969-2018 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

标准号: GB/T 36969-2018
别名: GBT36969-2018, GB36969-2018
发布: 2018年
发布单位: 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
当前最新: GB/T 36969-2018

GB/T 36969-2018相似标准

T/CGIA 001-2018 石墨烯材料术语和代号 GB/T 19619-2004 纳米材料术语 GB/T 40293-2021 红外硫系光学薄膜折射率测试方法 GB/T 31227-2014 原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法 GB/T 40128-2021 表面化学分析原子力显微术二硫化钼片层材料厚度测量方法

推荐

4月起将实施139项国家标准其中7项涉科学仪器

序号标准号中文名称实施日期107GB/T 7600-2014运行中变压器油和汽轮机油水分含量测定法(库仑法)2015-04-01111GB/T 31225-2014椭圆偏振仪测量硅表面上二氧化硅薄层厚度的方法2015-04-15112GB/T 31226-2014扫描隧道显微术测定气体配送系统部件表面粗糙度的方法2015-04-15113GB/T 31227-2014原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法...

AFM表征是什么意思有哪些优点

优点：　　原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了推动作用。以原子力显微镜为代表的扫描探针显微镜是利用一种小探针在样品表面上扫描，从而提供高放大倍率观察的一系列显微镜的总称。原子力显微镜扫描能提供各种类型样品的表面状态信息。...

AFM磁学测量

磁学测量磁性纳米结构和材料在高密度磁存储、自旋电子学等领域有着广泛的应用前景，高空间分辨的磁成像和磁测量技术将有利于推动磁性纳米结构和材料的研究。基于扫描探针及其相关技术，发展出一系列纳米磁性成像与测量的技术和方法，包括磁力显微术、磁交换力显微术、扫描霍尔显微术、扫描超导量子干涉器件显微术、扫描磁共振显微术以及自旋极化扫描隧道显微术等。...

XRD和TEM在样品物象上表征的区别

透射电镜法与原子力显微镜法在测定纳米碳酸钙粒子粒径的同时可观察到粒径的形貌，但测定的纳米粒子粒径数据仅代表其观察部分，存在样品的代表性问题。...

GB/T 36969-2018 中可能用到的仪器设备

在线测厚仪

谁引用了GB/T 36969-2018 更多引用

GB/T 40293-2021 红外硫系光学薄膜折射率测试方法

GB/T 36969-2018纳米技术 原子力显微术测定纳米薄膜厚度的方法