VDI/VDE 5575 BLATT 2-2019
X射线光学系统测量方法用于评估 X 射线光学系统的测量装置和方法

X-ray optical systems - measurement methods; Measurement setup and methods for evaluating x-ray optical systems

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标准号: VDI/VDE 5575 BLATT 2-2019
发布: 2019年
发布单位: SCC
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