以下介绍了几种应用广泛、比较准确、实用的纳米粒度测量方法。 X射线小角散射法 X射线小角散射法（SAXS）是利用X射线小角散射效应测定纳米颗粒粒度分布的一种有效方法，其相关理论、实验技术和数据处理方法已臻成熟，现已制定了国际技术规范和国家标准。...
通过配置不同的光学模块和样品台，可满足由普通相分析到薄膜测定，高分辨分析，微区测定，应力，织构，非环境下动态研究，微量相测定等不同领域要求。 根据Benson Hart小角相机设计的小角散射附件使广角衍射仪可以实现纳米材料的粒度测定，符合国家标准纳米粉末粒度分布的测定X射线小角散射法 （GB/T 13221-2004）和ISO/TS 13762:2001 速度快重现性好。 ...
缺点：灵敏度较低；定量分析的准确度不高；测得的晶粒大小不能判断晶粒之间是否发生紧密的团聚；需要注意样品中不能存在微观应力。 5.X射线小角散射法（SAXS） 当X射线照到材料上时，如果材料内部存在纳米尺寸的密度不均匀区域，则会在入射X射线束的周围2°~5°的小角度范围内出现散射X射线。当材料的晶粒尺寸越细时，中心散射就越漫散，且这种现象与材料的晶粒内部结构无关。...
XRD物相分析所需样品量大（0.1g），才能得到比较准确的结果，对非晶样品不能分析。X射线衍射分析主要用途有：XRD物相定性分析、物相定量分析、晶粒大小的测定、介孔结构测定（小角X射线衍射）、多层膜分析（小角度XRD方法）、物质状态鉴别（区别晶态和非晶态）。...
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