ASTM E175-82(1999)e1
显微镜标准术语

Standard Terminology of Microscopy

ASTM E175-82(1999)e1 发布历史

ASTM E175-82(1999)e1由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 1999-12-10。

ASTM E175-82(1999)e1在国际标准分类中归属于: 01.040.37 成像技术 (词汇)。

ASTM E175-82(1999)e1的历代版本如下：

• 1982年 ASTM E175-1982(1999)e1 显微镜学标准术语
• 1982年 ASTM E175-1982(2005)e1 显微镜学的标准术语
• 1982年 ASTM E175-1982(2010) 显微镜的标准术语
• 1999年12月10日 ASTM E175-82(1999)e1 显微镜标准术语
• 2005年05月01日 ASTM E175-82(2005)e1 显微镜标准术语

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标准号

ASTM E175-82(1999)e1

发布日期

1999年12月10日

实施日期

废止日期

无

国际标准分类号

01.040.37

发布单位

US-ASTM