62047-7-2011
Dispositifs à semiconducteurs – Dispositifs microélectromécaniques – Partie 7: Filtre et duplexeur BAW MEMS pour la commande et le choix des fréquences radioélectriques (Edition 1.0)

Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 7: MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection (Edition 1.0)

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标准号

62047-7-2011

发布日期

2011年06月01日

实施日期

2011年06月18日

废止日期

无

中国标准分类号

/

国际标准分类号

/

发布单位

IEC - International Electrotechnical Commission

引用标准

60

适用范围

This part of IEC 62047 describes terms@ definition@ symbols@ configurations@ and test methods that can be used to evaluate and determine the performance characteristics of BAW resonator@ filter@ and duplexer devices as radio frequency control and selection devices. This standard specifies the methods of tests and general requirements for BAW resonator@ filter@ and duplexer devices of assessed quality using either capability or qualification approval procedures.