ASTM F1192-11(2018)
标准指南 用于测量由半导体器件的重离子辐照引起的单一事件现象（SEP）
Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices
- 标准号
- ASTM F1192-11(2018)
- 发布
- 2018年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 当前最新
- ASTM F1192-11(2018)
- 1.1 本指南定义了测试集成电路和其他器件的单粒子现象（SEP）影响的要求和程序，该单粒子现象（SEP）是由原子序数 Z ≥ 2 的重离子辐照引起的。本描述特别排除了中子、质子、以及其他可能通过另一种机制诱发 SEP 的较轻颗粒。 SEP 包括由单次离子撞击引起的扰动的任何表现形式，包括软错误（一个或多个同时可逆位翻转）、硬错误（不可逆位翻转）、闭锁（持续高...