/T 31370.2-2015平板显示器（FPD）彩色滤光片测试方法 第2部分：耐光性2015-10-0140GB/T 31370.3-2015平板显示器（FPD）彩色滤光片测试方法 第3部分：耐热性2015-10-0141GB/T 31370.4-2015平板显示器（FPD）彩色滤光片测试方法 第4部分：耐化学性2015-10-0142GB/T 31371-2015废弃电子电气产品拆解处理要求 台式微型计算机...
（ SEMI 超净高纯试剂标准） 半导体集成电路用试剂材料的纯度要求较高，基本集中在SEMI G3、G4水平，我国的研发水平与国际尚存在较大差距；半导体分立器件对超净高纯试剂纯度的要求要低于集成电路，基本集中在 SEMI G2 级水平，国内企业的生产技术能够满足大部分的生产需要；平板显示和 LED 领域对于超净高纯试剂的等级要求为 SEMI G2、G3 水平，国内企业的生产技术能够满足大部分的生产需求...
目前一般都是用正胶，对于线宽要求不高的时候或者一些特殊的用途（比如PSS等）可以选择负胶（未完待续）优尼康：Filmetrics膜厚仪在光刻胶相关领域的应用 光刻胶厚度的量测，最初的方式是使用台阶仪来破坏性测试，因为光学测量可以快速无损测试，且干胶及湿胶均能够测试，目前大部分均已经采用光学方式测量膜厚。...
部分信息技术产品最惠国税率表#aabbccdd2 td{border:1px solid #66666;} #aabbccdd2 td{border:1px solid #666666}序号税则号列信息技术产品名称2021年1月1日至 6月30日最惠国税率（%）2021年7月1日至 12月31日最惠国税率（%）11284798961专门或主要用于印刷电路组件制造的电子元件自动装配机0011384798962...
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