GSO IEC 60747-5-4:2014
半导体仪器分立仪器第5-4部分：光电仪器半导体激光器

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 5-4: Optoelectronic devices - Semiconductor lasers

半导体仪器分立仪器第5-4部分：光电仪器半导体激光器, 您可以免费下载预览页

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试：免费下载 GSO IEC 60747-5-4:2014 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

标准号: GSO IEC 60747-5-4:2014
发布: 2014年
发布单位: GSO
当前最新: GSO IEC 60747-5-4:2014

适用范围: This part of IEC 60747 deals with the terminology, the essential ratings and characteristics as well as the measuring methods of semiconductor lasers.

GSO IEC 60747-5-4:2014相似标准

IEC 60747-5-4:2006 半导体器件.分立器件.第5-4部分:光电器件.半导体激光器 GOST 29283-1992 半导体仪器.分立器件仪器与集成电路.第5部分.光电子仪器 GSO IEC 60747-15:2014 半导体仪器分立仪器第15部分：半导体传感器隔离电源的半导体仪器 GB/T 15651.4-2017 半导体器件分立器件第5-4部分:光电子器件半导体激光器 GB 15651.4-2017 半导体器件分立器件第5-4部分:光电子器件半导体激光器

推荐

精简解析激光雷达式能见度仪的结构组成

激光器采用脉冲半导体激光器，发射波长为905 nm，脉冲能量为1.2～22 μJ，脉冲重复频率为5 000 Hz。低脉冲能量，高重复频率的激光器可以满足人眼安全考虑。半导体激光器体积仅有火柴盒大小，轻小方便。发射望远镜与接收望远镜口径仅有50mm，接收视场角大于发射发散角，可以更好地接收激光后向散射信号。接收望远镜后有窄带滤光片和窗口玻璃，起保护作用。...

探针台是一种很专业的仪器，它主要的功能就是针对半导体元件进行检测，这里面说的半导体元件指的是集成电路，分立器件，光电器件，传感器等元件以及封装的测试。通过探针台配合测量仪器可完成集成电路的电压，电流，电阻和电容电压特性曲线等参数检测。可以适用于对芯片进行科研分析，抽查检测等；可以保证这些半导体元件的质量，缩短研发时间和器件制作工艺的成本，所以，它的存在对于制造半导体的企业来说是非常重要的。 ...

深度详解激光粒度仪

最好在选择前寄送样品实地测试，因为样品的属性千差万别，有的仪器并非全能，对某些样品可能偏差比较大，三、产品的几个关键考验点(1)激光器选择：激光粒度仪的重要部件之一，主要有HE-NE激光器和半导体激光器两种，其中HE-NE激光器的各项性能均优于半导体激光器，且成本也远高于半导体激光器，半导体激光器单向性差的问题，对测试结果的稳定性影响很大。因此推荐用户选择HE-NE激光器。...

干湿法两用激光粒度仪的基本介绍

BT-2001激光粒度仪的测试部分采用进口的半导体激光器和高灵敏度光电接收器阵列，采用多通道数据转换电路与串行数据传输方式，配合自动对中系统等一系列先进的技术和制造工艺，使该仪器具有准确可靠、测试速度快、重复性好、操作简便、适用领域广泛等突出特点。该仪器尤其适合对不能用湿法进行粒度测试的行业（如磁性材料、医药、水泥等）和综合研究机构以及大专院校实验室应用。...

GSO IEC 60747-5-4:2014半导体仪器 分立仪器 第5-4部分：光电仪器 半导体激光器