IEC 62047-35:2019
半导体器件.微机电装置.第35部分:挠性机电装置弯曲变形电特性的试验方法
Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices - Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices
- 标准号
- IEC 62047-35:2019
- 发布
- 2019年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 62047-35:2019
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