GB/T 5095.2507-2021
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分:试验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR)

Electromechanical components for electronic equipment—Basic testing procedures and measuring methods—Part 25-7: Test 25g: Impedance, reflection coefficient, and voltage standing wave ratio (VSWR)

GBT5095.2507-2021, GB5095.2507-2021


标准号
GB/T 5095.2507-2021
别名
GBT5095.2507-2021, GB5095.2507-2021
发布
2021年
采用标准
IEC 60512-25-7:2004 IDT
发布单位
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
当前最新
GB/T 5095.2507-2021
 
 
适用范围
GB/T5095的本部分适用于互连组件,如IECTC48范围内的电连接器和电缆组件。本部分描述了在时域和频域内测量阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR)的试验方法。 注:这些测试方法是为专业试验人员编写的,这些试验人员具备电子领域的专业知识并经过使用测试设备的培训。 由于测量值受装置和设备的强烈影响,该方法未能叙述所有可能的复合作用。主要设备制造厂提供的应用说明书,对如何最恰当的使用其设备作了更深入的专业说明。至关重要的是相关标准中宜包括让试验人员了解如何安排和进行所要求测量的说明和简图。

GB/T 5095.2507-2021相似标准


推荐

射频开关:SPDT、级联、树形矩阵开关 (三)

3.4 电压驻波比   开关卡的电压驻波比VSWR)规定了连接器开关信号路径与传输线的特性阻抗的匹配程度。更具体地说,电压驻波比是驻波最大点的电压与驻波相邻最小点的电压之比。当电压驻波比等于1时,传输线不存在反射波。当电压驻波比大于1时,部分开关信号被反射回电源,小于最大功率的信号将被传输到负载。低电压驻波比对于设计用于信号串联多个元件的开关系统至关重要。...

HFSS在天线设计上的应用(三)

由上图可以看到该天线在2.45GHz附近时,电压驻波比约为1.1,说明此处接近行波,传输特性比较理想。4)smith阻抗圆图:史密斯圆图是一种计算阻抗反射系数等参量的简便图解方法。采用双线性变换,实部r=常数虚部x=常数两族正交直线变化为正交圆并与反射系数|G|=常数虚部x=常数套印而成。...

射频工程师必知必会——史密斯圆图 (二)

反射系数圆:最外面的单位圆为 r=0 的纯电抗圆,放射系数Γ=1;   驻波比行波系数:正实轴 r>1 为电压波腹点的轨迹,线上 r 的读书等于驻波比;负实轴 r0 为感性阻抗的区域;实轴下半平面为容性阻抗的区域。   ...

RF设计中的阻抗匹配50欧姆的由来(二)

这样我们又有了|Γ| = 1,这也是有道理的,因为短路也对应于不能吸收任何入射波能量的阻抗完全不连续性。   驻波比VSWR)   用于描述阻抗匹配的另一个参数是电压驻波比VSWR),定义如下: 从所得驻波(VSWR)的角度来看,VSWR接近阻抗匹配。它传达了最高驻波幅度与最低驻波幅度之比。...


GB/T 5095.2507-2021系列标准

GB/T 5095.1-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第1部分;总则 GB/T 5095.11-5095.12-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法 GB/T 5095.11-5095.12-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法 GB/T 5095.12-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第12部分;锡焊试验 第六篇: 试验12f 在机器焊接中封焊处耐焊剂和清洁剂 GB/T 5095.15-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第15部分;接触件和引出端的机械试验 第八篇: 试验15h 接触件固定机构耐工具使用性 GB/T 5095.2-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分;一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验 GB/T 5095.2303-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-3部分:屏蔽和滤波试验 试验23c:连接器和附件的屏蔽效果 线注入法 GB/T 5095.2304-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-4部分:屏蔽和滤波试验 试验23d:时域内传输线的反射 GB/T 5095.2307-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-7部分:屏蔽和滤波试验 试验23g:连接器的有效转移阻抗 GB/T 5095.2501-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分:试验25a:串扰比 GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗) GB/T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减 GB/T 5095.2504-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分:试验25d:传输时延 GB/T 5095.2505-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分:试验25e:回波损耗 GB/T 5095.2506-2020 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-6部分:试验25f:眼图和抖动 GB/T 5095.2507-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分:试验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR) GB/T 5095.2509-2020 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分:信号完整性试验 试验25i:外来串扰 GB/T 5095.3-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第3部分;载流容量试验 GB/T 5095.4-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第4部分;动态应力试验 GB/T 5095.5-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第5部分;撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验 GB/T 5095.6-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分;气候试验和锡焊试验 GB/T 5095.7-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第7部分;机械操作试验和密封性试验 GB/T 5095.8-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第8部分;连接器、接触件及引出端的机械试验 GB/T 5095.9-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第9部分;杂项试验

GB/T 5095.2507-2021 中可能用到的仪器设备


谁引用了GB/T 5095.2507-2021 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号