DIN EN 60749-23:2011-07
半导体器件 机械和气候测试方法 第23部分：高温工作寿命
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004 + A1:2011); German version EN 60749-23:2004 + A1:2011 / Note: DIN EN 60749-23 (2004-10) remains valid alongside this standard unt...
- 标准号
- DIN EN 60749-23:2011-07
- 发布
- 2011年
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 当前最新
- DIN EN 60749-23:2011-07
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