IEC 60747-11:1985
半导体器件 分立器件 第11部分:分立器件分规范
Semiconductor devices. Discrete devices. Part 11 : Sectional Specification for discrete devices
- 标准号
- IEC 60747-11:1985
- 发布
- 1985年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 替代标准
- IEC 60747-11:1985/AMD1:1991
- 当前最新
- IEC 60747-11:1985/AMD2:1996
- 适用范围
- 适用于分立半导体器件的质量评估。给出了质量一致性检验（包含在IECQ体系的QC 750000中）和端子标识的具体要求；代表截面规格。康泰
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