DIN 42115-3:1988
薄膜开关.薄膜键格.额定值、要求、试验

Membrane switches; membrane-switch-arrays; ratings, requirements, tests

薄膜开关.薄膜键格.额定值、要求、试验, 您可以免费下载预览页

预览 DIN 42115-3:1988前三页

标准号: DIN 42115-3:1988
发布: 1988年
发布单位: 德国标准化学会
当前最新: DIN 42115-3:1988

被代替标准: DIN 42115-1:1985

适用范围: 该标准包含薄膜开关阵列的附加要求和测试。

DIN 42115-3:1988相似标准

DIN 42115-2:1988 薄膜开关.无加压点薄膜键盘.额定值、要求、试验 DIN 42115-1:1988 薄膜开关.总则、概念、额定值、要求、试验 GB/Z 21212-2007 薄膜开关用聚酯薄膜 ASTM F2750-09 测定薄膜开关或薄膜开关组合弯曲影响的标准试验方法 ASTM F218-95(2000) 测定薄膜开关或薄膜开关组件上变频振动影响的标准试验方法

推荐

快速智能定硫仪

采用国际上先进的单片计算机测定，智能化操作，只需将称好的试样放入燃烧管内，按下启动键仪器便会自动送样，自动运算，精度自动补偿，自动返回，自动显示，自动打印试验结果，自动打开和关闭电解。自动化程度高。...

Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号