测定薄膜开关或薄膜开关组件上变频振动影响的标准试验方法 是非强制性国家标准,您可以免费下载预览页
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子元件的振动测试程序1、适用范围:本标准规定用以测定电子组件(以下简称组件)于运输或使用中承受振动之耐久性能之试验方法Ⅰ、Ⅱ及Ⅲ。 注:试验方法Ⅰ适用于测定对一般振动之耐久性,试验方法Ⅱ适用于测定共振点及试验方法Ⅰ、Ⅲ前后共振点之偏距,试验方法Ⅲ适用于测定在共振点之耐久性。2、装置:振动装置应能作表中所示各种试验且符合下列条件。...
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