IEEE 1160-1993
辐射探测器用高纯锗晶体试验程序

Standard Test Procedures for High-Purity Germanium Crystals for Radiation Detectors

IEEE 1160-1993 发布历史

Applies to the measurement of bulk properties of high-purity germanium as they relate to the fabrication and performance of germanium detectors for gamma rays and x-rays.

IEEE 1160-1993由美国电气电子工程师学会 US-IEEE 发布于 1993-01-01。

IEEE 1160-1993 在中国标准分类中归属于: H82 元素半导体材料，在国际标准分类中归属于: 17.240 辐射测量。

IEEE 1160-1993的历代版本如下：

• 1993年01月01日 IEEE 1160-1993 辐射探测器用高纯锗晶体试验程序

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标准号

IEEE 1160-1993

发布日期

1993年01月01日

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

H82

国际标准分类号

17.240

发布单位

US-IEEE

适用范围

Applies to the measurement of bulk properties of high-purity germanium as they relate to the fabrication and performance of germanium detectors for gamma rays and x-rays.