DIN 50433-1:1976
无机半导体材料的检验.第1部分:采用X射线衍射现象对单晶体取向的测定
Testing of semi-conducting inorganic materials; determining the orientation of single crystals by means of X-ray diffraction
- 标准号
- DIN 50433-1:1976
- 发布
- 1976年
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 当前最新
- DIN 50433-1:1976
- 适用范围
- 半导体无机材料测试；通过 X 射线衍射确定单晶的取向Essai de matériaux semi-conducteurs minéraux；通过 X 射线衍射测定单晶的取向
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