JIS K 0131:1996
X射线衍射计测量分析的通用规则

General rules for X-ray diffractometric analysis


 

 

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标准号
JIS K 0131:1996
发布
1996年
发布单位
日本工业标准调查会
当前最新
JIS K 0131:1996
 
 
适用范围
この規格は,X線回折装置を用いて回折X線を測定 し,これによって物質の同定・定量,格子定数の精密測定,結晶化度の測定などを行う場合の一般的事項について規定する。

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