BS PD CEN ISO/TS 17200:2015
纳米技术. 粉末状的纳米颗粒. 特征和测量

Nanotechnology. Nanoparticles in powder form. Characteristics and measurements


 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 BS PD CEN ISO/TS 17200:2015 前三页,或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准,
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。

 


BS PD CEN ISO/TS 17200:2015相似标准


推荐

梓梦科技如期参加CPQC全国制药行业质量控制技术论坛

纳米粒度及Zeta电位分析仪控制软件具有纳米颗粒粒度zeta电位测量功能,一键式测量,无需用户干涉,自动调整散射光强,自动优化光子相关器参数,以适应不同样品,让测量变得如此轻松。控制软件具有标准化操作(SOP)功能,让不同实验室、不同实验员间测量按照同一标准进行,测量结果更具可比性。 测量完成自动生成报表,以可视化方式展示测量结果,让测量结果一目了然。 ...

颗粒ICP-MS应用:纳米管分析

颗粒 ICP-MS(SP-ICP-MS),无需样品消解,通过监测瞬态金属信号即可实现金属量半定量测量。SP-ICP-MS 还可以在一分钟之内分别对上千根碳纳米管进行快速测量,从而预估粒子个数含量。本文介绍了单壁碳纳米管(SWCNT)中钇(Y)(一种常用催化剂) SP-ICP-MS 测定方法。样品单壁碳纳米管是从溶液(Riverside,CA)中获取,为粉末状。...

赏樱正当好时节

动态光散射技术激光衍射技术如今被广泛应用于纳米颗粒微米颗粒粒径测量。粒径测量广泛应用于各行各业,比如:食品饮料,制药,化工,建筑行业等。食品行业:许多食品在生产过程中,都会以一种形态体现,可以是悬浮液,粉末或乳剂。对于粉末样品,颗粒大小影响体积密度,从而影响粉末流动性;同样,在悬浮液样品中,颗粒大小对剪切粘度有影响,这反过来又会影响原材料泵送,混合运输。...

神奇纳米金属污染在哪里

XRF测量是样品金属总量,而不是单根或若干根碳纳米管上金属。TEM可以测量单根碳纳米管上金属或纳米粒子,但过程十分缓慢冗长,一天之内只能测量少数几个碳纳米管样品。传统ICP-OESICP-MS需要完全消解碳纳米管,而鉴于其化学惰性,这将是一项巨大挑战。单颗粒ICP-MS(SP-ICP-MS),无需样品消解,通过监测瞬态金属信号即可实现金属量半定量测量。...


BS PD CEN ISO/TS 17200:2015 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号