IEC 60748-22-1-1997
半导体器件 集成电路 第22-1部分:实行能力批准程序的膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 22-1: Blank detail specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits on the basis of the capability approval procedures


标准号
IEC 60748-22-1-1997
发布日期
1997年04月
实施日期
废止日期
中国标准分类号
L56
国际标准分类号
31.200
发布单位
IX-IEC
被代替标准
IEC 47A/447/FDIS-1996 IEC 60748-22-1-1991
适用范围
Semiconductor devices -Integrated circuits - Part 22-1: Blank detail specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits on the basis of the capability approval procedures Characteristics and conditions of use..................................................................... Recommended methods of mounting..................................................................... Marking................................................................................................................. Ordering information.............................................................................................. Certified records of released lots........................................................................... Additional information............................................................................................ Additional or increased severities or requirements to those specified in the generic and/or sectional specification................................................................................. Inspection requirements (see tables 2 and 3 or 4 and 5)......................................... Supplement -Tables of method B..........................................................................

IEC 60748-22-1-1997系列标准

IEC 60748-1 AMD 1-1991 半导体器件.集成电路.第1部分:总则.修改件1 IEC 60748-1 AMD 2-1993 第2次修改 IEC 60748-1 AMD 3-1995 半导体器件.集成电路.第1部分:总则.修改件3 IEC 60748-1-2002 半导体器件.集成电路.第1部分:总则 IEC 60748-11 AMD 1-1995 半导体器件 集成电路 第11部分:半导体集成电路(不包括混合电路)分规范 修改1 IEC 60748-11 AMD 2-1999 半导体器件 集成电路 第11部分:半导体集成电路(不包括混合电路)分规范 修改2 IEC 60748-11-1-1992 半导体器件 集成电路 第11部分:第1节:半导体集成电路(不包括混合电路)内部目检 IEC 60748-11-1:1992 半导体器件 - 集成电路 - 第11-1部分:不包括混合电路的半导体集成电路的内部目视检查 IEC 60748-11-1990/AMD1-1995 修改件1.半导体器件.集成电路.第11部分:不包括混合电路的半导体集成电路分规范 IEC 60748-2 AMD 1-1991 半导体器件.集成电路.第2部分:数字集成电路.第1次修改 IEC 60748-2 AMD 2-1993 第2次修改 IEC 60748-2-1-1991 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第1节:双极单片数字集成门电路(不包括自由逻辑阵列) IEC 60748-2-10-1994 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第10节:集成电路动态读/写存储器空白详细规范 IEC 60748-2-11-1999 半导体器件 集成电路 第2-11部分:数字集成电路 单电集成电路可擦、可编程、只读存储器集成电路空白详细规范 IEC 60748-2-12-2001 半导体器件 集成电路 第2-12部分:数字集成电路 可编程逻辑器件(PLDs)空白详细规范 IEC 60748-2-9:1994 半导体器件 - 集成电路 - 第2部分:数字集成电路 - 第9节:MOS紫外线可擦除电可编程只读存储器的空白详细规范 IEC 60748-2-2 AMD 1-1994 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第2节:HCMOS数字集成电路(54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列)族规范 修改1 IEC 60748-2-2-1992/AMD1-1994 修改件1——半导体器件 集成电路第2部分:数字集成电路第2节:54/74 HC、54/74 HCT、54/74 HCU系列HCMOS数字集成电路系列规范 IEC 60748-2-2-1992/AMD1-1994 修改件1——半导体器件 集成电路第2部分:数字集成电路第2节:54/74 HC、54/74 HCT、54/74 HCU系列HCMOS数字集成电路系列规范 IEC 60748-2-20-2008 半导体器件.集成电路.第2-20部分:数字集成电路.系列规范.低压集成电路 IEC 60748-2-3-1992 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第3节:HCMOS数字集成电路(54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列)空白详细规范 IEC 60748-2-4-1992 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第4节:MOS数字集成电路族规范,4000B和4000UB系列 IEC 60748-2-5-1992 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第5节:MOS数字集成电路(4000B和4000UB系列)空白详细规范 IEC 60748-2-6-1992 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第6节:微处理器集成电路空白详细规范 IEC 60748-2-7-1992 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第7节:熔丝式可编程双极只读存储器集成电路空白详细规范 IEC 60748-2-8-1993 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第8节:静态读/写存储器集成电路空白详细规范 IEC 60748-2-9-1994 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第9节:MOS紫外线擦除可编程只读存储器空白详细规范 IEC 60748-20 AMD 1-1995 半导体器件 集成电路 第20部分:膜集成电路和混合膜集成电路总规范 修改1 IEC 60748-20-1-1994 半导体器件 集成电路 第20部分:膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第1节:内部目检要求 IEC 60748-20-1:1994 半导体器件 - 集成电路 - 第20部分:薄膜集成电路和混合薄膜集成电路的通用规范 - 第1部分:内部目视检查的要求 IEC 60748-20-1988/AMD1-1995 修改件1——半导体器件 集成电路 第20部分:薄膜集成电路和混合薄膜集成电路总规范 IEC 60748-21-1-1997 半导体器件 集成电路 第21-1部分:实行鉴定批准程序的膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范 IEC 60748-21-1:1997 半导体器件集成电路第21-1部分:坯料 薄膜集成电路和混合薄膜详细规范 基于资格认证的集成电路 程序 IEC 60748-22-1:1997 半导体器件 - 集成电路 - 第22-1部分:基于能力审批程序的薄膜集成电路和混合薄膜集成电路的空白详细规范 IEC 60748-23-1-2002 半导体器件.集成电路.第23-1部分:混合集成电路和薄膜结构.生产线认证.总规范 IEC 60748-23-2-2002 半导体器件.集成电路.第23-2部分:混合集成电路和薄膜结构.生产线认证.内部审查和特殊试验 IEC 60748-23-3-2002 半导体器件.集成电路.第23-3部分:混合集成电路和薄膜结构.生产线认证.生产者自审清单和报告 IEC 60748-23-4-2002 半导体器件.集成电路.第23-4部分:混合集成电路和薄膜结构.生产线认证.空白详细规范 IEC 60748-23-5-2003 半导体器件.集成电路.第23-5部分:混合集成电路和薄膜结构.生产线认证.鉴定批准 IEC 60748-3 AMD 1-1991 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 修改1 IEC 60748-3 AMD 2 Corrigendum 1-1996 半导体器件.集成电路.第3部分:模拟集成电路.修改件2 IEC 60748-3 AMD 2-1994 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 修改2 IEC 60748-3-1-1991 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 第1节:单片集成电路运算放大器空白详细规范 IEC 60748-3-1:1991 半导体器件 集成电路 - 第3部分:模拟集成电路 - 第一部分:单片集成运算放大器的空白详细规范 IEC 60748-3-1986/AMD1-1991 修改件1——半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 IEC 60748-3-1986/AMD2-1994 修正案2——半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 IEC 60748-4 AMD 1-1991 半导体器件.集成电路.第4部分:界面集成电路.第1次修改 IEC 60748-4 AMD 2-1994 第2次修改 IEC 60748-4-1-1993 半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第1节:线性数字/模拟转换器空白详细规范 IEC 60748-4-3:2006 半导体器件 - 集成电路 - 第4-3部分:接口集成电路 - 模拟数字转换器(adc)的动态标准 IEC 60748-4-2-1993 半导体器件.集成电路.第4部分:接口集成电路.第2节:线性模拟-数字转换器空白详细规范 IEC 60748-4-3-2006 半导体器件.集成电路.第4-3部分:接口集成电路.模拟/数字转换器(ADC)的动力学标准 IEC 60748-5-1997 半导体器件 集成电路 第5部分:半定制集成电路




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