IEC 60748-23-2:2002
半导体器件.集成电路.第23-2部分:混合集成电路和薄膜结构.生产线认证.内部审查和特殊试验
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 23-2: Hybrid integrated circuits and film structures; Manufacturing line certification; Internal visual inspection and special tests
- 标准号
- IEC 60748-23-2:2002
- 发布
- 2002年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 60748-23-2:2002
- 被代替标准
- IEC 47A/639/FDIS:2002
- 适用范围
- 适用于混合集成电路和薄膜结构的高质量审批系统。测试的目的是对混合、多芯片和多芯片模块微型器件的内部材料、结构和工艺进行目视检查。
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