GB/T 16878-1997
用于集成电路制造技术的检测图形单元规范

Specification for metrology pattern cells for integrated circuit manufacture

GBT16878-1997, GB16878-1997


GB/T 16878-1997 中,可能用到以下仪器

 

徕卡显微镜Leica DM3 XL 微电子和半导体用检验系统

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圆派科学仪器(上海)有限公司

 

半导体检测显微镜单元

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北京创诚致佳科技有限公司

 

帕克 NX-Mask 掩模修补系统

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Park帕克原子力显微镜

 

帕克 NX-Mask 掩模修补系统 定位缺陷

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GB/T 16878-1997

标准号
GB/T 16878-1997
别名
GBT16878-1997
GB16878-1997
发布
1997年
采用标准
SEMI P19-1992 IDT
发布单位
国家质检总局
当前最新
GB/T 16878-1997
 
 
本规范规定若干种标准测试图形,用以对集成电路生产中所用的微图形设备、计量仪器和工艺进行一致的全面评估和检测。 本规范针对线宽计量、分辨率测试和邻近效应测试的需要,规定若干种基本测试图形单元的形状、一般尺寸、以及推荐的布局和设计规则。这些标准图形包括可供光学显微镜、电子显微镜和电子探针测量用的各种图形单元。 本规范不规定验证母版上测试图形关...

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