IEC 60747-5-3:1997
半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods


 

 

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标准号
IEC 60747-5-3:1997
发布
1997年
中文版
GB/T 15651.3-2003 (等同采用的中文版本)
发布单位
国际电工委员会
替代标准
IEC 60747-5-3:1997/AMD1:2002
当前最新
IEC 60747-5-3:2009
 
 
适用范围
IEC 60747 的这一部分描述了适用于不打算用于光纤系统或子系统的光电器件的测量方法。

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