IEC 61124-1997 可靠性试验 恒定失效率和恒定失效密度假设下的验证试验IEC 60605-6-1997 设备可靠性试验 第6部分:恒定失效率和恒定失效密度假设的有效性试验IEC 60605-3-6-1996 设备可靠性试验 第3部分:推荐试验条件 第6节:试验循环6:室外移动设备 粗模拟IEC 60605-3-5-1996 设备可靠性试验 第3部分:推荐试验条件 第5节:试验循环5:地面移动设备...
功率半导体器件是新能源、轨道交通、电动汽车、工业应用和家用电器等应用的核心部件。特别是随着新能源电动汽车的高速发展,功率半导体器件的市场更是爆发式的增长,区别于消费电子市场,车规级功率半导体器件由于高工作结温、高功率密度、高开关频率的特性,和更加恶劣的使用环境,使得器件的可靠性显得尤为重要。功率循环作为功率器件耐久性试验中的一种,被工业界和学术界认为是考核功率器件封装可靠性最重要的可靠性测试。...
图1 广东科鉴可靠性实验室-温度-湿度-振动综合应力试验箱1.试验目的实践证明大多数设备的故障率是时间的函数,典型故障曲线称之为浴盆曲线(Bathtub curve,失效率曲线) ,参见图2。而可靠性寿命试验的目的,一是发现产品中可能过早发生耗损的零部件,以确定影响产品寿命的根本原因和可能采取的纠正措施;二是验证产品在规定条件下的使用寿命、贮存寿命是否达到规定的要求。...
本标准在编写过程中引用的文件包括:GB/T 191-2000 包装储运图示标志(cqv ISO 180:1997);GB/T 2829-2002 周期检验计数抽样及表(适用于对过程稳定性的检验);GB/T 5080.7-1986 设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平局无故障时间的验证试验方案;GB/T 9706.1-2007 医用电气设备 第1部分:安全通用要求;GB/T 14710-2016...
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