GB/T 17473.2-1998
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of fineness
哪些标准引用了GB/T 17473.2-1998
GB/T 17472-2008微电子技术用贵金属浆料规范GB/T 26004-2010表面喷涂用特种导电涂料YS/T 605-2006介质浆料YS/T 603-2006烧结型银导体浆料YS/T 611-2006PTC 陶瓷用电极浆料YS/T 606-2006固化型银导体浆料YS/T 613-2006碳膜电位器用电阻浆料YS/T 609-2006铂电极浆料YS/T 614-2006银钯厚膜导体浆料YS/T 612-2006太阳能电池用浆料YS/T 610-2006包封玻璃浆料YS/T 604-2006金基厚膜导体浆料YS/T 608-2006电位器用钌电阻浆料YS/T 612-2014太阳能电池用浆料YS/T 607-2006钌基厚膜电阻浆料
- 标准号
- GB/T 17473.2-1998
- 发布日期
- 1998年08月19日
- 实施日期
- 1999年03月01日
- 废止日期
- 2008-09-01
- 中国标准分类号
- H21
- 国际标准分类号
- 77.040.01
- 发布单位
- CN-GB
- 代替标准
- GB/T 17473.2-2008
- 适用范围
- 本标准规定了贵金属浆料细度的刮板试验方法。 本标准适用于贵金属浆料细度测定。非贵金属浆料的细度测定亦可参照使用。