适用于表面质量评级的规定包括:1、ANSI/OEOSC OP1.002-2009,针对光学和电光仪器 – 光学元素和组件 – 外观缺陷*2、ISO10110-7:2008,光学和光电- 适用于光学元件和系统的制图 - 第7部分:表面缺陷公差*3、ISO14997:2003;光学和光学仪器 - 用于检测光学元件表面缺陷的方法4、MIL-PRF-13830B;管理火控仪器光学组件的制造、组装和检测的一般规格...
光学玻璃的折射率是一种重要属性,因为光学表面的功率是从表面的曲率半径和表面任意一侧上的介质折射率之差得来的。玻璃制造商指定的 不均匀性是指玻璃折射率的变化。不均匀性是根据不同的等级来指定的,其中等级和不均匀性是互为相反关系的,随着等级的增加,不均匀性则会减少(表3)。...
为了进行横截面分析,首先必须通过切割、研磨和抛光横截面表面等多个步骤对横截面进行仔细制备,然后才能对内部结构进行分析和评估。图 1:使用 EM TXP 制备的带有焊接引脚的印刷电路板横截面电子显微镜图像。为什么要进行横截面分析?横截面分析用于识别缺陷和研究印刷电路板基板材料及其层[4]、集成电路材料、电子和电池组件[3,5]、焊点[1,4]、空隙和裂纹[1]的完整性。...
DLC(类金刚石)薄膜作为性能优良的红外光学材料,不仅可以用作超硬减反膜,而且可以用作各种镀膜元件高性能保护膜,它增强了镀膜元件的抗环境能力,因此大大拓宽了镀膜元件的应用范围,在解决一些技术问题之后,便可制作出能满足各种红外光学仪器对不同环境要求的光学镀膜元件。 ...
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