ISO 12179:2000
产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法 接触(触针)式仪器的校准
Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Calibration of contact (stylus) instruments
ISO 12179:2000 发布历史
ISO 12179:2000由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 2000-03。
ISO 12179:2000 在中国标准分类中归属于: J04 基础标准与通用方法，在国际标准分类中归属于: 17.040.30 测量仪器仪表。
本标准有等同采用的 中文版 GB/T 19600-2004 产品几何量技术规范(GPS)表面结构 轮廓法 接触(触针)式仪器的校准
ISO 12179:2000 发布之时，引用了标准
- ISO 12085:1996 产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法 图形参数
- ISO 3274:1996 产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法 接触(触针)式仪器的标称特性
- ISO 4287:1997 产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法 表面结构的术语、定义及参数 两种语言版
ISO 12179:2000的历代版本如下：
- 2021年 ISO 12179:2021 产品几何技术规范（GPS）.表面结构:轮廓法.接触（触针）仪器的校准
- 2003年 ISO 12179:2000/cor 1:2003 产品几何量技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.接触(触针)式仪器的校准.技术勘误1
- 2000年 ISO 12179:2000 产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法 接触(触针)式仪器的校准
本标准适用于采用ISO 3274定义的轮廓法测量表面纹理的接触式（触针式）仪器的计量特性的校准。 校准应借助测量标准进行。 附录 B 适用于不符合 ISO 3274 的简化操作员接触（触针）仪器的计量特性校准。
- 标准号
- ISO 12179:2000
- 发布
- 2000年
- 中文版
- GB/T 19600-2004 (等同采用的中文版本)
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 替代标准
- ISO 12179:2000/cor 1:2003
- 当前最新
- ISO 12179:2021
- 引用标准
- ISO 12085:1996 ISO 3274:1996 ISO 4287:1997
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