EN ISO 25178-701:2010
产品的几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第701部分:接触式(触针)仪器的校准和测量标准

Geometrical product specifications (GPS) - Surface texture: Areal - Part 701: Calibration and measurement standards for contact (stylus) instruments (ISO 25178-701:2010)

产品的几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第701部分:接触式(触针)仪器的校准和测量标准, 您可以免费下载预览页

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试：免费下载 EN ISO 25178-701:2010 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

标准号: EN ISO 25178-701:2010
发布: 2010年
发布单位: 欧洲标准化委员会
当前最新: EN ISO 25178-701:2010

引用标准: ISO 12085 ISO 12179:2000 ISO 25178-2 ISO 25178-601 ISO 3274 ISO 5436-1:2000 ISO 5436-2 ISO/IEC Guide 99:2007 ISO/TS 12181-1 ISO/TS 12780-1 ISO/TS 12781-1 ISO/TS 14253-2
被代替标准: FprEN ISO 25178-701:2010

适用范围: ISO 25178 的这一部分规定了——作测量标准的物质测量的特征，——余误差的估计方法，以及？面积表面纹理接触（触针）测量仪器的验收和定期重新验证的校准方法和测试。

EN ISO 25178-701:2010相似标准

GB/T 33523.70-2020 产品几何技术规范（GPS）表面结构区域法第70部分：实物测量标准 GB/T 33523.606-2022 产品几何技术规范（GPS）表面结构区域法第606部分：非接触（变焦）式仪器的标称特性 GB/T 33523.603-2022 产品几何技术规范（GPS）表面结构区域法第603部分：非接触（相移干涉显微）式仪器的标称特性 GB/T 33523.1-2020 产品几何技术规范（GPS）表面结构区域法第1部分：表面结构的表示法 ISO 25178-701:2010 产品的几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第701部分:触点(触针)仪器的测量和校准标准

推荐

粗糙度仪常见问题及解答

表面粗糙度仪（光洁度）的国家标准主要术语及定义本资料给出的参数符合GB/T3505-2000《产品几何技术规范表面结构轮廓法表面结构的述语、定义及参数》、符合GB/T6062-2002《产品几何量技术规范（GPS）表面结构轮廓法接触（触针）式仪器的标称特性》。25. 技术术语（1）表面粗糙度：取样长度L取样长度是用于判断和测量表面粗糙度时所规定的一段基准线长度，它在轮廓总的走向上取样。...

transmission153表面粗糙度比较样块抛丸、喷砂加工表面roughness comparison specimens shot blasted and blasted surfaces54产品结构几何量计术规范(GPS)geometrical product specifications(GPS)55表面结构surface texture56接触式仪器的标称特性nominal characteristics...

实验室检验检测设备--测厚仪

测厚仪按照测量的方式不同,可大致分为:1、接触式测厚仪接触面积大小划分:点接触式测厚仪面接触时测厚仪2、非接触式测厚仪非接触式测厚仪根据其测试原理不同,又可分为以下几种:激光测厚仪超声波测厚仪涂层测厚仪X射线测厚仪白光干涉测厚仪电解式测厚仪管厚规主要类型激光测厚仪:是利用激光的反射原理,根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度,是一种非接触式的动态测量仪器。...

测厚仪的种类以及特点

激光测厚仪：是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。X射线测厚仪：利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。...

EN ISO 25178-701:2010产品的几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第701部分:接触式(触针)仪器的校准和测量标准