GB/T 18032-2000
砷化镓单晶AB微缺陷检验方法

The inspecting method of AB microscopic defect in gallium arsenide single crystal

GBT18032-2000, GB18032-2000


GB/T 18032-2000


标准号
GB/T 18032-2000
别名
GBT18032-2000
GB18032-2000
发布
2000年
发布单位
国家质检总局
当前最新
GB/T 18032-2000
 
 
本标准规定了砷化镓单晶AB微缺陷的检验方法。 本标准适用于砷化镓单晶AB微缺陷密度(AB-EPD)的检验。检验面为(100)面。测量范围小于 5 X 10<上角5> cm<上角-2>

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