IEC 60747-8:2000
半导体装置.第8部分:场效应晶体管

Semiconductor devices - Part 8: Field-effect transistors

2010-12

 

 

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 IEC 60747-8:2000 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

 

标准号
IEC 60747-8:2000
发布
2000年
发布单位
国际电工委员会
替代标准
IEC 60747-8:2010
当前最新
IEC 60747-8:2010/AMD1:2021
 
 
适用范围
IEC 60747的这一部分给出了以下类别场效应晶体管的标准： - A型：结栅型； ——B型：绝缘栅耗尽型； - C型：绝缘栅增强型。

IEC 60747-8:2000相似标准

STAS SR CEI 747-8-1993 半导体装置．分离装置．第8部分：场效应晶体管 KS C IEC 60747-8:2002 半导体器件.第8部分:场效应晶体管 BS IEC 60747-8:2010 半导体装置.分立器件.场效应晶体管 TIS 2121-2002 半导体器件.分立器件.第8部分:场效应晶体管 IEC 60747-8:2010/AMD1:2021 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

谁引用了IEC 60747-8:2000 更多引用

DIN EN 60747-15:2012 分立半导体器件.第15部分:独立电力半导体器件(IEC 60747-15-2010).德文版本EN 60747-15-2012 IEC 60747-15:2010 半导体器件.分立器件.第15部分:单独的电力半导体器件 IEC 60747-4:2007 半导体装置.分立装置.第4部分:微波二极管和晶体管


Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号