IEC/PAS 62171-2000
粒子冲击噪声检测(PIND)试验、操作员培训和认可指南

Guidelines for particle impact noise detection (PIND) testing, operator training and certification


IEC/PAS 62171-2000 发布历史

IEC/PAS 62171-2000由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 2000-08。

IEC/PAS 62171-2000 在中国标准分类中归属于: Z32 噪声、振动测试方法,在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合,03.120.10 质量管理和质量保证。

IEC/PAS 62171-2000的历代版本如下:

  • 2000年08月 IEC/PAS 62171-2000 粒子冲击噪声检测(PIND)试验、操作员培训和认可指南

IEC/PAS 62171-2000 于 2003-01 变更为 IEC 60749-16-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第16部分:粒子冲击噪声探测(PIND)。

 

 

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标准号
IEC/PAS 62171-2000
发布日期
2000年08月
实施日期
废止日期
中国标准分类号
Z32
国际标准分类号
31.080.01;03.120.10
发布单位
IX-IEC
代替标准
IEC 60749-16-2003




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