IEC/PAS 62171-2000由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 2000-08。
IEC/PAS 62171-2000 在中国标准分类中归属于: Z32 噪声、振动测试方法,在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合,03.120.10 质量管理和质量保证。
IEC/PAS 62171-2000 于 2003-01 变更为 IEC 60749-16-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第16部分:粒子冲击噪声探测(PIND)。
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