IEC 60749-16:2003
半导体器件.机械和气候试验方法.第16部分:粒子冲击噪声探测(PIND)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
- 标准号
- IEC 60749-16:2003
- 发布
- 2003年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 60749-16:2003
- 被代替标准
- IEC 47/1662/FDIS:2002 IEC/PAS 62171:2000
- 适用范围
- 定义旨在检测空腔器件内是否存在松散颗粒的测试，例如陶瓷碎片、键合线或焊球（颗粒）。
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